摘   要： 討論了IEEE P1500測試架構，詳細分析并實現了IP核的測試環（Wrapper）結構，給出了一種支持該標準的芯片級測試控制結構。該結構能控制基于總線結構的TAM以及P1500 Wrapper，通過芯片級CTAP控制器，支持串行或并行測試訪問，實現了核內測試以及核間互連測試。同時該結構只需5根額外測試管腳。
關鍵詞： 片上系統； 測試環； 測試訪問機制； IP核

　　片上系統SoC已經發展成為當今的一種主流技術，但由于系統集成商從IP核供應商處得到的芯核信息非常有限，給芯片級測試集成開發帶來新的挑戰，SoC測試也被認為是SoC設計流程中的一個瓶頸。IEEE P1500工作組正在制定的新標準便是以各種型態及用途的核測試是否能以即插即用（Plug-and-Play）的方式整合于SoC內為考慮[1]。IEEE P1500對芯核測試環（Wrapper）和用于傳遞核測試信息的核測試語言（CTL）做了規定，但為了適應多供應方提供芯核的事實，P1500對Wrapper只有行為上的定義，同時并行測試訪問機制（TAM）也留給用戶自己定義[2]。參考文獻[3]、[4]對P1500 和Wrapper的設計進行了討論；參考文獻[5]、[6]提出了層次化測試結構的設計方案，能夠支持多種類型的IP核，但結構較復雜。本文構建并實現了一個可行的測試架構，該架構包括標準規定的P1500 Wrapper、用戶自定義的并行TAM以及芯片級測試控制器。該測試控制結構簡單，硬件資源花費較少。
1 P1500 Wrapper及實現
　　P1500的Wrapper由1個指令寄存器（WIR），1位旁路寄存器（WBY）和邊界寄存器（WBR）構成[3-4]，并通過Wrapper接口端口(WIP)訪問這些寄存器,如圖1所示。WIP是標準中強制要求的，共6個信號線，其定義如下：

　　　　　　　　　　　　　　　　　圖1 P1500 Wrapper結構

　　WRSTN：低電平有效的異步復位信號，復位有效時，測試環工作在正常模式。
　　WRCK：P1500提供給WIR，WBY、WBR的專用時鐘信號。
　　SelectWIR：指令與測試數據選擇端。為1時，WIR連入 WSI-WSO，傳送測試指令；為0時，根據WIR指令，選擇WBR、WBY或核內部數據寄存器，傳送測試數據。
　　CaptureWR、ShiftWR、UpdateWR：分別為Wrapper數據、指令的捕獲端、移位端和更新端。
整個Wrapper的設計由Wrapper單元和指令控制模塊兩部分組成。
1.1  Wrapper單元（WBC）
　　P1500規定每個數字核的功能管腳有1個WBC，它們共同構成WBR，Wrapper單元具有移位、捕獲、更新等功能；能夠提供正常的功能路徑，實現核輸入可控性和輸出可觀性。IEEE P1500只定義了WBC的行為，并沒有具體實現，允許用戶擴展WBC功能，本設計除了實現標準要求的以上功能外,還提供并行TAM的接口，供WPI-WPO的輸入輸出,整個操作由WIP信號和指令共同控制,圖2為Wrapper輸入單元的原理圖，表1為其真值表。Wrapper輸出單元與之類似。

1.2  指令控制模塊
　　指令寄存器(WIR)由1個移位寄存器以及1個等長的更新寄存器組成。指令通過WSI掃描到移位寄存器，只有當指令鎖存到更新寄存器中，指令才有效。P1500 測試環有多種操作模式，除了串行測試模式外，還有可選的并行測試模式。主要有正常模式、 串行內測試、串行外測試、盤路測試、 并行內測試、并行外測試，IEEE P1500都有相對應的指令。表2是本設計的部分指令、指令碼以及相應的功能描述。

　　Wrapper的整個操作是由WIP的信號配合載入到WIR的指令共同完成的。圖3中SelectWIR和ShiftWR在第2個WRCK上升沿之前為1。接下來3個時鐘保持這2個信號不變(本設計指令長度為3 bit)， 開始了3位WIR指令的移位操作，移位完成后，ShiftWR信號置為0，而UpdateWR信號置為1。在隨后的WRCK的下降沿時，指令存到WIR的更新寄存器中。在WIR更新后，SelectWIR信號置為0，在下個WRCK時鐘來的時候，被Wrapper指令寄存器選中的數據寄存器進行移位操作。

2 SoC級測試控制結構
　　基于IEEE P1500的SOC測試架構如圖4所示。主要由串行數據開關DS、并行數據開關PDS、測試配置寄存器TCR以及1個可以控制多個P1500核的CTAP控制器構成。該結構硬件開銷少，只需5個額外的測試管腳，其中TAM可以復用SoC的功能管腳，Source和Sink可以是片內的，也可以由片外ATE提供。

2.1 CTAP控制器
　　CTAP是一個19 bit的有限狀態機，它類似于1149.1的TAP控制器，是整個測試控制結構的核心部分，與1149.1的TAP控制器相比，增加了3個狀態:Select TCR Scan、Shift TCR、Update TCR。在TMS信號的控制下，產生TCR所需的信號(shift_tc，update_tc，select_tc)，測試時，通過這3個狀態對測試配置寄存器進行配置，選擇指定的核。CTAP的其余狀態結合TMS信號產生P1500所需要的WIP信號，控制Wrapper操作。其狀態機描述如圖5所示。

2.2  測試配置寄存器TCR
　　測試配置由一組移位更新寄存器組成，其中寄存器的位數是由核的個數決定的。其輸入信號由CTAP控制器產生，測試配置數據由TDI輸入，圖6是一個m位的移位更新寄存器，用來控制m個核，從更新寄存器出來的信號連到串行數據開關以及并行數據開關的en端，當某個核的en端為1時，該核被選中，進行核內相應測試；當en為全1時，核全部被選中，可以進行核間互連測試。

2.3  數據開關（DS和PDS）
　　數據開關用來控制串行測試數據的路徑，連接芯片與IP核。其結構如圖7所示。

　　當DS的en信號為1時，芯片串行測試數據路徑就與IP核的串行測試數據路徑連接，通過它，可以移入指令或者測試數據到IP核中。同理，在基于總線的TAM上，也為每個核配置1個總線數據開關，其原理與串行線上的DS相同，只是將1位TAM，改為連接多位TAM。如圖7所示。
3  測試步驟
 　　測試步驟如下：
　　 (1) 進行測試配置：由TSM信號控制CTAP狀態機，通過TDI進行測試配置，輸入m位二進制數，表示相對應IP核選中情況。如100…0，表示選中第1個IP核進行測試。
　　(2) 測試指令輸入：由TSM信號控制CTAP狀態機，通過TDI輸入測試指令，將指令輸入到選中的IP的WIR中。
　　(3) 測試數據的輸入：通過TSM信號控制CTAP狀態機，根據輸入的指令，選擇串行或者并行測試，將測試數據輸入WBR，結合指令，進行相應的測試。
　　(4) 重復以上步驟，完成所有核的內部測試，不同核有不同的測試方法與要求，如BIST、Iddq、掃描測試等，要根據具體的核供應商以及所要求的故障覆蓋率決定。
　　(5) 測試完所有的IP核后，將測試配置寄存器設置為全1，即111…1，選中所有核，然后移入互連測試指令，進行核間互連測試。
4   仿真實現
　　為驗證該結構，依次設計了3個簡單的邏輯核，1個計數器、1個四位加法器和1個頻率計。以4位加法器核為例，為核進行Wrapper,其管腳為a（3:0）、b（3:0）、cin、s（3:0）、cout。例化WBC單元，為每個功能管腳加入WBC，并連入指令控制模塊。設TAM寬度為3 bit，為減少測試時間，平衡掃描鏈的長度，該3條掃描鏈為：PI(0)，b(1)，b(0)，cin，s(0)，cout，PO(0)；PI(1)，a(0)，b(3)，b(2)，s(2)，s(1)，PO(1)；PI(2)，a(3)，a(2)，a(1)，s(3)，PO(2)。以同樣方式對其他核進行Wrapper并搭建SoC測試架構。下面以4位加法器核并行內測試指令為例，將010二進制碼輸入配置寄存器，選中4位加法器核進行測試，然后再控制TMS信號，將并行測試指令111移入指令寄存器并進行更新，隨后通過TAM信號輸入測試激勵，進行功能測試。為方便說明，這里只選010作為測試矢量，如果核的功能正確，根據Wrapper與TAM的連接情況，其TAM輸出應為100和×11。從仿真波形中可以看出，測試數據移位更新捕獲后，輸出結果一致，功能正確。仿真波形如圖8所示。

　　為了實現SoC的并行測試，本文設計的P1500 Wrapper提供并行TAM的接口，供WPI-WPO的輸入輸出,同時給出了基于IEEE P1500的SoC測試架構，該結構充分考慮IEEE 1149.1 TAP的成熟技術，通過增設配置寄存器狀態,并結合P1500的WIP信號，實現了對多個P1500核的測試控制。但對于Wrapper的優化設計以及對多種類型芯核的測試控制器的設計,還需進一步研究。
參考文獻
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[3]  MARINISSEN E J, GOEL S K, LOUSBERG M. Wrapper  design for embedded core test, Proc. IEEE International  Test Conference, AtIantic City, NJ,USA,2000:911-920.
[4]  陸思安,嚴曉浪,李浩亮.面向IP核測試復用的測試環設計.浙江大學學報（工學版）, 2004,38(1):93-97.
[5]  LEE K J, HUANG C I,CHEN J B, et al. A hierarchical  test control architecture for core based design. In Proc.  Ninth IEEE Asian Test Symp. (ATS), Taipei, Dec, 2000:248-253.
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[7]  WU Cheng Wen. SOC testing methodology and practice.  Design, Automation and Test in Europe,2005:1120-1121.