運放參數的詳細解釋和分析14—軌至軌輸入_TI的領先技術
摘要： Part13中講到了常用的軌至軌運放是采用NMOS與PMOS差分輸入級相并聯的方法。這一方法巧妙的解決了輸入信號達不到兩個電源軌的問題。在當今軌至軌輸入的運放中得到廣泛的應用。
Abstract：
Key words :
Part13中講到了常用的軌至軌運放是采用NMOS與PMOS差分輸入級相并聯的方法。這一方法巧妙的解決了輸入信號達不到兩個電源軌的問題。在當今軌至軌輸入的運放中得到廣泛的應用。
但是這種并聯差分輸入級的運放有一個先天的問題就是輸入失調電壓交越問題。如下圖所示，為并聯差分輸入結構的運放的輸入前級。
下圖是這種運放的輸入失調電壓可以看出。隨著共模電壓的升高PMOS在2V（用于舉例的值）左右將關閉，而NMOS即將打開，就在這個節骨眼上。運放的輸入失調電壓變生了跳變。這個可以理解，兩組不同結構的輸入級的輸入失調電壓是不同的，在交接棒時，這個失調電壓也完成了交接棒。對于直流信號這個問題會引起誤差突變，對于正弦交流信號，這個問題會引起信號的失真。在交越點引入一個小小的臺階。
為了解決這個問題，TI公司設計了兩種領先的差分輸入級。第一種結構如下圖。PMOS差分輸入級能達到負電源軌，而達不到正電源軌，總是差這么1V左右夠不著。我們把輸入級的電源在內部提高1.8V。水漲船高，這樣的輸入級就能達到運放的正電源軌。由于只有一組差分輸入級，并不會存在輸入失調電壓交越的問題。
這一技術在TI的單電源運放OPAl365上得到應用。如下圖。
到這并沒有結束，另一種技術在TI的單電源軌至軌運放中得到應用。這就是自調零技術。下圖使用了自調零技術（MOSFET Zero Drift）前后。輸入失調電壓跳變就非常小了。
這一技術在TI的OPA333運放中得到應用，下表是OPA333的Vcm輸入電壓范圍。
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