| 確保更精確的高電阻測量 | |
| 所屬分類：解決方案 | |
| 上傳者：keithley | |
| 文檔大?。?span>204 K | |
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| 文檔介紹：高電阻測量已成為多種測試應用的組成部分，包括印制電路板的表面電阻（SIR）測試、絕緣材料和半導體的電阻率測量、高歐姆值電阻的電壓系數測試等。確保高電阻測量（即高于1GΩ[109歐姆]的電阻）的精度需要使用大量的特殊技術和儀器，例如靜電計、源測量單元（SMU）、或皮可安培計/電壓源組合。靜電計可以采用恒壓或恒流的方法測量高電阻。本文將介紹如何正確搭配測試儀器和對于確保高電阻測量應用的精度大有幫助的測量技術。 | |
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