中文引用格式： 王濤，于鵬，錢昀瑩. DSP片上Flash測試系統設計與實現[J]. 電子技術應用，2025，51(2)：41-45.
英文引用格式： Wang Tao，Yu Peng，Qian Yunying. Design and implementation of DSP on-chip Flash testing system[J]. Application of Electronic Technique，2025，51(2)：41-45.
引言
數字信號處理器（Digital Signal Processor，DSP）片上一般集成了Flash存儲器，片上Flash以二進制碼的形式存儲用戶應用程序及數據，可在DSP芯片掉電后保持數據不丟失。鑒于片上Flash的非易失性、低功耗等優點，集成片上Flash的DSP芯片已廣泛應用在數字電源、伺服控制以及智能電網等領域[1]。
為保證片上Flash存儲器的可靠性，在DSP芯片篩選考核試驗中，Flash擦寫耐久和數據保持測試是最重要的試驗之一[2]。Flash存儲器測試方法主要分為內建自測試和外部測試，其中內建自測試方法受限于固定的測試電路，難以保證測試覆蓋率；外部測試又分為自動化測試設備（Automatic Test Equipment，ATE）和板級專用工裝測試，由于Flash全地址空間擦寫耐久和數據保持測試時間長、測試向量較大，利用ATE機臺測試DSP片上Flash效率低且成本高[3]。
針對內建自測試和外部ATE機臺測試的局限性，本文提出了一種DSP片上Flash測試系統的設計與實現方法，詳細介紹了片上Flash存儲器測試方案、系統硬件設計以及軟件開發等。該系統可實現多工位DSP片上Flash存儲器自動化測試，上電后被測DSP芯片通過SPI接口在線加載測試程序，工作狀態可實時顯示。上述過程無需人工參與，提高了測試效率，降低了測試成本。同時測試過程中的數據和結果自動存儲在外部EEPROM中，便于后期進行測試結果統計分析，為進一步提高DSP片上Flash測試效率和故障覆蓋率提供依據[4]。
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作者信息：
王濤，于鵬，錢昀瑩
（中國電子科技集團公司第五十八研究所，江蘇 無錫 214062）
