| 基于熵率聚類的超像素機器視覺與缺陷檢測算法 | |
| 所屬分類：技術論文 | |
| 上傳者：zhoubin333 | |
| 文檔大?。?span>416 K | |
| 標簽： 機器視覺 熵率聚類 超像素 | |
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| 文檔介紹：在智能制造中，傳統成像技術已經滿足不了高精度工業需求。提出了結合熵率聚類的目標分割算法，并且基于超像素的鄰邊集，建立熵率和平衡項的目標函數，最后通過貪婪啟發算法優化并求解該目標函數，得到最優的超像素集合。并設計了基于高斯函數衡量相鄰像素的相似性實驗，設定相關參數，進行工業制造實際流程檢測。最終實驗結果表明，所提算法有較好的檢測識別效果，在輪廓及內部條紋識別上效果明顯，整體識別效果良好，適用于工業制造領域。 | |
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