| X波段功率器件外殼端口仿真與測試差異性研究 | |
| 所屬分類：技術論文 | |
| 上傳者：aetmagazine | |
| 文檔大?。?span>1005 K | |
| 標簽： 探針測試 X波段 大功率封裝外殼 | |
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| 文檔介紹：基于探針測試方法進行X波段功率器件外殼端口的仿真與測試差異性研究。在使用仿真軟件對其進行優化后,通過HTCC(高溫共燒陶瓷)工藝線制備和生產，發現使用GSG探針對該端口進行測試后的插入損耗遠遠大于仿真結果。通過對照實驗和仿真驗證等實驗方法，分析出插入損耗仿真與測試的差異來源于輻射損耗，導致信號在返回路徑的信號完整性受到影響。對結構進行相應的優化后插入損耗大幅減小，證明輻射損耗是造成差距的原因，通過電磁屏蔽可以得到有效解決。該研究可以為大功率器件類封裝外殼的設計、測試和使用提供借鑒意義。 | |
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